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  • 薄膜介电常数介质损耗测试仪LJD系列介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ)的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。
  • LJD系列高低频介电常数介质损耗测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ)的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。
  • LJD型绝缘纸介电常数介质损耗测试仪值测量范围:2~1023,量程分档:30100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档固有误差:≤5%±满度值的2%(200kHz~10MHz),≤6%±满度值的2%(10MHz~160MHz) 工作误差:≤7%±满度值的2%(200kHz~10MHz),≤8%±满度值的2%(10MHz~160MHz)
  • 陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪GB/T1409在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。
  • 介电常数测定仪LJD-C型介电常数及介质损耗测试仪又称介电常数测试仪、介质损耗测试仪、介质损耗因数测试仪、介质损耗角正切测试仪、高频/工频介电常数测试仪。作为新一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器。 测试频率上限达到目前国内高的160MHz。
  • 介质损耗介电常数测试仪1.信号源:DDS数字合成信号10KHZ-70MHZ *2.信号源频率精度3×10-5±1个字,6位有效数 3.Q值测量范围:1~1023 4.Q值量程分档:30、100、300、1000、自动换档或手动换档;

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