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直读介电常数介质损耗测试仪
发布日期:2019-12-18
型    号:
所属分类:介电常数测定仪
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直读介电常数介质损耗测试仪在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。

直读介电常数介质损耗测试仪产品概述:

LJD介电常数及介质损耗测试系统使用方法 

直读介电常数介质损耗测试仪

一 介电常数测试方法与步骤

1. S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

 

2. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH15MHz时电感取1。5uH。

3. 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间(当材料介电大于6的情况下建议材料≥2mm),样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平整。

4. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。

  • 再松开两片极片,把被测样品夹入平板电容上下极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,直到平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的测微杆,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2。改变主机上的主调电容容量(旋转主调电容旋钮改变主调电容电容量),使主机处于谐振点(Q值最大值)上。
  • 取出S916测试夹具中的样品,这时主机又失去谐振(Q值变小),此时调节S916测试夹具的测微杆,使主机再回到谐振点(Q值最大值)上,读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4。
  • 计算被测样品的介电常数:

     Σ=D2 / D4

直读介电常数介质损耗测试仪

二 介质损耗测试方法与步骤

1. 主机C0值的计算方式:

  • 选一个适当的谐振电感接到“Lx”的两端;
  • 将调谐电容器调到200P左右,令这个电容是C4
  • 按下仪器面板的频率搜索键,使测试回路谐振,谐振时Q的读数为Q4(注:若频率搜索未能找到z高Q值谐振点,可以通过频率旋钮来微调频率来达到Q值最大值的谐振点;
  • 将测试夹具接在“Cx”两端,放入材料,上下极片夹紧材料后记住夹具显示值,然后拿出材料,调回到夹具的显示数值,调节主调电容,使测试电路重新谐振,此时可变电容器值为C3Q值读数为Q3。(注:C3数值肯定比C4要小)

机构电容的有效电容为:Cz= C4C3

分布电容为机构电容CZ和电感分布电容CL(参考电感的技术说明)的和

介质损耗系数/介质损耗正切值为

2。 S916测试夹具装置上的插头插入到主机测试回路的“电容”两个端子上。

3. 在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司 主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz 时电感取100uH15MHz时电感取1.5uH

4。 被测样品要求为圆形,直径50.4--52mm/38.4--40mm,这是减小因样品边缘泄漏和边缘电场引起的误差的有效办法。样品厚度可在1--5mm之间,样品太薄或太厚就会使测试精度下降,样品要尽可能平直。

5. 调节S916测试夹具的测微杆,使S916测试夹具的平板电容极片相接为止,按ZERO 清零按键,初始值设置为0。再松开两片极片,把被测样品夹入两片极片之间,调节S916测试夹具的测微杆,到的平板电容极片夹住样品止(注意调节时要用S916测试夹具的,以免夹得过紧或过松),这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值,既是样品的厚度D2,改变主机上的主调电容容量,使主机处于谐振点(Q值最大值),然后按一次 主机上的小数点(tgδ)键,在显示屏上原电感显示位置上将显示C0= x x x(C0=Cz+CL电感分布电容)需要手动输入,记住厚度D2的值,此时显示数值为C2和Q2

6。 取出S916测试夹具中的样品,(保持S916测试夹具的平板电容极片之间距不变)这时主机又失去谐振(Q值变小),再改变主机上的主调电容容量,使主机重新处于谐振点(Q值最大值)上。

7. 注意:多次测试同一个材料时,要求保持每次材料厚度的读数一致。

8. 第二次按下 主机上的小数点(tgδ)键,显示屏上原C2Q2显示变化为C1Q1,同时显示介质损耗系数tn =x x x x x ,即完成测试。

9. 出错提示,当出现tn =  NO 显示时,说明测试时出现了差错,发生了Q1  Q2C1  C2的错误情况。

 

附录 一

显示数据介绍:

 

C1

材料拿出后,谐振时测得的电容值

C2

材料在夹具中,谐振时测得的电容值

Q1

材料拿出后,谐振时测得的Q值

Q2

材料在夹具中,谐振时测得的Q值

CZ

主机+测试夹具测得的结构电容值

CL

标准电感的分布电容值

C0

结构电容值+电感的分布电容值

D2

材料的厚度

tn

介质损耗系数/介质损耗正切值

附录

LKI-1电感组

LKI-1型电感组共包括不同电感量的电感9个,凡仪器在进行测试线圈的分布电容量,电容器的电容量,高频介质损耗,高频电阻和传输线特性阻抗等高频电路和元件的电性能时,必须用电感组作辅助工具。

本电感组有较高Q值,能使仪器测量时得到尖锐谐振点,因而增加其测量的准确度,各电感的有关数据如下表:

电感No

电感量

准确度%

Q值≥

分布电容约略值

谐振频率范围 MHz

适合介电常数测试频率

LJD-B

LJD-C

1

0。1μH

±0。05μH

180

5pF

20~70

31~103

50MHz

2

0。5μH

±0.05μH

200

5pF

10~37

14。8~46。6

15MHz

3

2。5μH

±5%

200

5pF

4.6~17.4

6.8~21.4

10MHz

4

10μH

±5%

200

6pF

2。3~8。6

3.4~10.55

5MHz

5

50μH

±5%

180

6pF

1~3。75

1.5~4.55

1.5MHz

6

100μH

±5%

200

6pF

0。75~2。64

1。06~3。20

1MHz

7

1mH

±5%

150

8pF

0。23~0。84

0.34~1.02

0.5MHz

8

5mH

±5%

130

8pF

0.1~0.33

0。148~0。39

0。25MHz

9

10mH

±5%

90

8pF

0.072~0.26

0.107~0.32

0。1MHz

10

15nH

±10%

40

0

 

≥100

100MHz

 

 

 

 

 

 

 

 

 

附录

 

一  如何测试带粘性超薄绝缘材料介电常

1 锡箔纸覆胶材料的两面上下层锡箔纸能接触。锡箔纸厚度为DX;

2 超薄材料需要叠加:叠加方式如下

                                   250μ贴合6层后测试;

200μ贴合8层后测试;

175μ贴合9层后测试;

125μ贴合12层后测试;

100μ贴合15层后测试;

75μ贴合20层后测试;

50μ贴合30层后测试。

3 计算公式 

  Σ=(D2-2*DX)/D4

4 损耗系数测试同理

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