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  • 薄膜介电常数介质损耗测试仪LJD系列介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ)的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。
  • LJD系列高低频介电常数介质损耗测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置,标准介质样品组成,能对薄膜、各种板材及液态绝缘材料进行高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ)的测试。它符合国标GB/T1409-2006,美标ASTMD150以及IEC60250规范要求。
  • LJD型介电常数介质损耗测试仪是各种金属氧化物,板材,瓷器(陶器),云母,玻璃,塑料等物质的一项重要的物理性质。通过测定可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素,为提高材料的性能提供依据。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机金属新材料性能的应用研究。
  • LJD型绝缘纸介电常数介质损耗测试仪值测量范围:2~1023,量程分档:30100﹑300﹑1000,自动换档或手动换档固有误差:≤5%±满度值的2%(200kHz~10MHz),≤6%±满度值的2%(10MHz~160MHz) 工作误差:≤7%±满度值的2%(200kHz~10MHz),≤8%±满度值的2%(10MHz~160MHz)
  • 陶瓷材料介电常数介质损耗测试仪GB/T1409在主机电感端子上插上和测试频率相适应的高Q值电感线圈(本公司主机配套使用的LKI-1电感组能满足要求),如:1MHz时电感取100uH,15MHz时电感取1.5uH。
  • GB/T1409介电常数介质损耗测试仪介绍是我公司研制生产的产品,自该产品实现销售后,我公司工程师就一直持续不断对产品改进升级;特别是在软件上不断地加以完善,改进了早期产品存在的不足之处,提高了测试精度,并增加新的功能

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